Memajukan pengeditan gen dengan varian CRISPR / Cas9 baru - ScienceDaily
Top News

Kimiawan mencapai dimensi baru dalam pencitraan langsung – ScienceDaily


Para peneliti di Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Institut Paul Scherrer di Swiss dan institusi lain di Paris, Hamburg dan Basel, telah berhasil mencetak rekor baru dalam mikroskop sinar-X. Dengan lensa difraksi yang ditingkatkan dan pemosisian sampel yang lebih tepat, mereka mampu mencapai resolusi spasial dalam skala nanometer digit tunggal. Dimensi baru dalam pencitraan langsung ini dapat memberikan impuls yang signifikan untuk penelitian struktur nano dan selanjutnya mengembangkan sel surya dan jenis baru penyimpanan data magnetik. Temuan tersebut kini telah dipublikasikan di jurnal Optik dengan judul ‘Mikroskopi sinar-X lembut dengan resolusi 7 nm’.

Mikroskopi sinar-X lunak, yang menggunakan sinar-X berenergi rendah digunakan untuk menyelidiki sifat-sifat material dalam skala nano. Teknologi ini dapat digunakan untuk menentukan struktur film organik yang berperan penting dalam pengembangan sel surya dan baterai. Ini juga memungkinkan proses kimia atau reaksi katalitik partikel untuk diamati. Metode ini memungkinkan penyelidikan dinamika spin. Elektron tidak hanya dapat mengangkut muatan listrik, tetapi juga memiliki arah rotasi internal, yang dapat digunakan untuk jenis penyimpanan data magnetik baru.

Untuk meningkatkan penelitian dalam proses ini di masa mendatang, para peneliti harus dapat ‘memperbesar’ ke skala nanometer satu digit. Hal ini secara teoritis dimungkinkan dengan sinar-X lembut, tetapi hingga saat ini hanya dimungkinkan untuk mencapai resolusi spasial di bawah 10 nanometer menggunakan metode pencitraan tidak langsung yang memerlukan rekonstruksi selanjutnya. ‘Untuk proses dinamis seperti reaksi kimia atau interaksi partikel magnetik, kita harus dapat melihat strukturnya secara langsung,’ jelas Prof.Dr.Rainer Fink dari Ketua Kimia Fisika II di FAU. ‘Mikroskopi sinar-X sangat cocok untuk ini karena dapat digunakan lebih fleksibel di lingkungan magnetis daripada mikroskop elektron, misalnya.’

Fokus dan kalibrasi ditingkatkan

Bekerja dengan Institut Paul Scherrer dan institusi lain di Paris, Hamburg, dan Basel, para peneliti kini telah memecahkan rekor baru dalam mikroskop sinar-X karena mereka telah berhasil mencapai resolusi rekor 7 nanometer dalam beberapa percobaan berbeda. Keberhasilan ini tidak didasarkan terutama pada sumber sinar-X yang lebih kuat, tetapi pada peningkatan fokus sinar dengan menggunakan lensa difraksi dan kalibrasi sampel uji yang lebih tepat. ‘Kami mengoptimalkan ukuran struktur pelat zona Fresnel yang digunakan untuk memfokuskan sinar-X,’ jelas Rainer Fink. ‘Selain itu, kami dapat memposisikan sampel di perangkat dengan akurasi yang jauh lebih tinggi dan mereproduksi akurasi ini.’ Penentuan posisi terbatas dan stabilitas sistem secara keseluruhan inilah yang mencegah peningkatan resolusi dalam pencitraan langsung hingga sekarang.

Hebatnya, resolusi rekaman ini tidak hanya dicapai dengan struktur pengujian yang dirancang khusus, tetapi juga dalam aplikasi praktis. Misalnya, para peneliti mempelajari orientasi medan magnet partikel besi berukuran 5 hingga 20 nanometer dengan optik baru mereka. Prof Fink menjelaskan: ‘Kami berasumsi bahwa hasil kami akan mendorong penelitian ke dalam bahan energi dan khususnya nanomagnetisme. Ukuran struktur yang relevan di bidang ini seringkali di bawah batas resolusi saat ini. ‘

Sumber Cerita:

Materi disediakan oleh Universitas Erlangen-Nuremberg. Catatan: Konten dapat diedit gaya dan panjangnya.

Dipersembahkan Oleh : Lapak Judi

Baca Juga : Slot Online